nano CT X-9200K電子半導體測試設備，最小0.6um 的檢測精度，可用于檢測集成電路芯片半導體，例如BGA， IGBT，倒裝芯片和PCBA組件焊接， LED邦定，IC 封裝等行業的高精度測試。
Product Introduction
Product Introduction
| Model: | X-9200k |
| X-ray 光管類型 | 開放式 |
| 空間分辯率 | 0.6μm-2μm |
| 光管電壓 | 160kv |
| 光管電流 | 1000μA |
| 放大倍率 | 2100x/10000x（未安裝360°旋轉平臺的情況） |
| 數字平板探測器分辯率 | 1536*1536p |
| 數字平板探測器密度值 | 16bit (65536) |
| 圖像速度 | 20（FPS) |
| 平板旋轉角度/傾斜度 | ±70 ° |
| 載物臺尺寸 | 600*605mm |
| 載物臺最大承重 | 20KG |
| 檢測范圍 | 400*410mm |
| 機器尺寸 | 1810*2420*2400mm(L*W*H) |
| 機器重量 | 2200kg |
| 操作系統 | WINDOWS 10 |
| 電源/功率 | AC 380V 3相 50-60HZ 1800W |
| 輻射安全測試 | <1 uSV/H |
Product Introduction
