• 設備展示
    X-225T 鑄件X射線檢測系統
    X-225T 鑄件X射線檢測系統
    空間分辨率:0.4/1.0mm 像素矩陣:3072*3072px 旋轉/傾斜角度:360° 光管電壓:

    壓鑄件升級版X-RAY設備X-225T-M是一款為鑄造業量身打造的X-RAY設備,搭配225kV電壓的X光管具備超強X-RAY穿透能力能檢測更厚的壓鑄件缺陷,同時載物臺支持360°旋轉檢測樣品。

    詳細信息

    壓鑄件升級版X-RAY設備X-225T-M是一款為鑄造業量身打造的X-RAY設備,搭配225kV電壓的X光管具備超強X-RAY穿透能力能檢測更厚的壓鑄件缺陷,同時載物臺支持360°旋轉檢測樣品。

    規格參數
    Model:X-225T
    X-ray 光管類型封閉式
    空間分辯率

    0.4/1.0mm

    光管電壓225KV
    光管電流

    3mA

    成像尺寸430*430mm
    圖像精度139um
    平板像素分辯率 

    3072*3072PX

    檢測范圍

    800*1000(直徑*高度)

    最大載物重量

    25kg

    機器尺寸

    1759*1566*2097mm(L*W*H)

    機器重量

    2300kg

    操作系統WINDOWS 10
    電源/功率AC110-220V 50-60HZ 1200W
    輻射安全測試<1 uSV/H
    檢測案例
    NDT內部檢測 0.2mm

    鋼瓶檢測

    X-ray檢測設備X-ray檢測設備


    X-6100 X-RAY檢測領域廣泛,通常應用于電子元器件的內部結構檢測,常見氣泡空洞率測量、電路短路斷路、焊點缺焊少焊漏焊、內部存在異物裂縫等.....
    X-7100 X-RAY檢測領域廣泛,通常應用于電子元器件的內部結構檢測,常見氣泡空洞率測量、電路短路斷路、焊點缺焊少焊漏焊、內部存在異物裂縫等.....
    半導體X-RAY檢測設備 X-7900可以檢測半導體3um的缺陷、一鍵測量汽包大小及空洞率,并可以將缺陷幾何放大400X,檢測圖像系統放大2500X。
    188-2319-2896
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